一文解析介電損耗測(cè)試儀測(cè)量介質(zhì)損耗的意義

　　介電損耗測(cè)試儀測(cè)量介質(zhì)損耗的意義：

　　電壓作用下，電介質(zhì)中產(chǎn)生的一切損耗稱(chēng)為介質(zhì)損耗。如果介質(zhì)損耗過(guò)大，會(huì)使電介質(zhì)溫度升高，從而材料發(fā)生老化，且介質(zhì)溫度不斷上升的情況下，甚至?xí)央娊橘|(zhì)融化、燒焦，甚至喪失絕緣能力，導(dǎo)致熱擊穿。電介質(zhì)損耗的大小，是衡量絕緣介質(zhì)電性能的一項(xiàng)重要指標(biāo)，本儀器為電氣設(shè)備的安全使用提供了保障。

　　介電損耗測(cè)試儀采用變頻電源技術(shù)，利用單片機(jī)和現(xiàn)代化電子技術(shù)進(jìn)行自動(dòng)頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運(yùn)算；達(dá)到抗干擾能力強(qiáng)、測(cè)試速度快、精度高、全自動(dòng)數(shù)字化、操作簡(jiǎn)便；廣泛適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備及相關(guān)絕緣材料的介損和介電常數(shù)的測(cè)量。

　　介電損耗測(cè)試儀測(cè)量線路包括標(biāo)準(zhǔn)回路和被試回路。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測(cè)量線路組成，被試回路由被試品和測(cè)量線路組成。測(cè)量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位等，再由單片機(jī)運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運(yùn)算便可得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施，保證在外電場(chǎng)干擾下準(zhǔn)確測(cè)量。